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使用便攜x射線熒光光譜儀會對被檢測物造成傷害嗎?

更新時間:2022-03-03 點(diǎn)擊次數(shù):940
   便攜x射線熒光光譜儀是一種常用的光譜技術(shù),既可用于材料的組成成分分析,又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。與所有的分析儀器一樣,在做出購買決定前應(yīng)當(dāng)考慮許多因素,例如應(yīng)用領(lǐng)域等細(xì)節(jié)。所以,下面將著重討論在選擇一套用于測量薄層材料厚度的X射線熒光光譜儀體系時應(yīng)當(dāng)考慮的一些重要因素,討論的對象主要為能量色散X射線熒光光譜儀體系(EDXRF),這種體系如今已經(jīng)具有許多不同的配置規(guī)格,既有臺式配置的,又有便攜的、手持式配置的。
  
  使用該儀器會對被檢測物造成傷害嗎?
  正確使用便攜x射線熒光光譜儀一般不會對被測物造成傷害的,X射線是可控的,不會輕易脫離控制的。這邊比較推薦奧林巴斯X射線熒光光譜儀,是由無損檢測元素組成的技術(shù),對產(chǎn)品的損傷幾乎為零,所以在操作的時候*不用擔(dān)心。設(shè)備使用起來也很不錯,通過可選無線局域網(wǎng)和藍(lán)牙功能,可以連接到云或其他設(shè)備,并且還具有嵌入式GPS,能將檢測結(jié)果與精準(zhǔn)的GPS坐標(biāo)配對,以此來記錄并繪制元素的位置。
  
  X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素,具體而言,從鈉元素(原子序數(shù)Z=11)到鈾元素(原子序數(shù)Z=92)都可以利用這種技術(shù)進(jìn)行檢測分析。但是對于原子序數(shù)較低的元素(鈦元素Ti,Z=22以下),空氣會對檢測結(jié)果產(chǎn)生較大影響;由低原子序數(shù)元素產(chǎn)生的熒光值通常更低,并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數(shù)元素的能量輻射。
  
  通常情況下,用于提高低原子序數(shù)元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環(huán)境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。

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